专利名称：一种薄壁回转体工件的自动化原位测量-校形方法及系统
专利(申请)号：CN202411408805.X
申请日期：2024-10-10
授权日期：
发明人：左兰壮; 陈思鲁; 朴钟宇
其他发明人：
专利权人：